专利名称：一种光器件测量方法及测量系统专利类型：发明专利发明人：潘时龙,薛敏,赵永久申请号：CN201310308780.1申请日：20130722公开号：CN103424242A公开日：20131204
摘要：本发明公开了一种光器件测量方法，属于光器件测量、微波光子学技术领域。本发明在现有基于光单边带调制的光器件测量方法的基础上，采用两种光单边带探测信号（即包含载波和载波抑制的光单边探测信号）相结合的方法，消除了由光单边带探测信号中相邻高阶边带间拍频引入的测量误差，从而极大地提高了测量系统的测量精确度和动态范围。本发明还公开了一种光器件测量系统。本发明可实现高精细度和高精确度的光器件测量，使得基于光单边带调制的光器件测量技术走向实用。
申请人：南京航空航天大学
地址：210016 江苏省南京市御道街29号
国籍：CN
代理机构：南京经纬专利商标代理有限公司
代理人：杨楠
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