专利名称：一种自由曲面的检测方法专利类型：发明专利发明人：汪际军
申请号：CN201711148520.7申请日：20171117公开号：CN107941471A公开日：20180420
摘要：本发明提供了一种自由曲面的检测方法，包括：提供一测试结构；测试结构具有光学自由曲面；获取光学自由曲面的中心位置；在光学自由曲面上划出多条曲线，以中心位置作为坐标原点，建立三维坐标系，获取多条曲线的曲线坐标数据；根据曲线坐标数据，拟合出模拟曲面；将模拟曲面和理论光学自由曲面进行比较，得到光学自由曲面的面形误差值。本发明实现了对光学自由曲面的有效测量，提高了检测精度。
申请人：全普光电科技(上海)有限公司
地址：200000 上海市嘉定区南翔镇沪宜公路1185号
国籍：CN
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