（12）发明专利申请
（21）申请号 CN201380008391.5 （22）申请日 2013.01.21 （71）申请人 西门子公司
地址 德国慕尼黑
（10）申请公布号 CN104105985A
（43）申请公布日 2014.10.15
（72）发明人 D.尼德尔洛纳;C.施罗特 （74）专利代理机构 北京市柳沈律师事务所
代理人 侯宇
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
X射线探测器和用于测量X射线的方法
（57）摘要
本发明涉及一种X射线探测器(2)，其具
有在工作时面朝X射线辐射源的上侧(4)，和具有用于将X射线直接转换成电测量信号的半导体层(14)，其中，在上侧(4)与半导体层(14)之间设有发光膜(12)，借助该发光膜能将电磁射线耦合入半导体层(14)。
法律状态
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
法律状态公告日
2014-10-15 2014-11-12 2016-08-17
公开
法律状态信息
公开
实质审查的生效 授权
法律状态
实质审查的生效 授权
权利要求说明书
X射线探测器和用于测量X射线的方法的权利要求说明书内容是....请下载后查看
说明书
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